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臺(tái)式掃描電子顯微鏡
發(fā)布日期:2022-07-20 瀏覽次數(shù):1034
儀器設(shè)備檔案卡
儀器名稱 |
臺(tái)式掃描電子顯微鏡 |
儀器型號(hào) |
EM-30+ |
生產(chǎn)廠家 |
COXEMCO.,LTD |
購(gòu)置日期 |
2022.5.25 |
放置地點(diǎn) |
|
儀器工作狀態(tài) |
正常 |
技術(shù)參數(shù) |
分辨率: 5.0nm @30kV SE 放大倍數(shù): 15x – 150,000x 加速電壓: 1kv - 30kv(step1kV) 磁透鏡系統(tǒng): 雙聚光鏡 物鏡光闌: 4位可移動(dòng),搖擺對(duì)中 掃描光柵電位移及旋轉(zhuǎn): +/-50um ,0-360° 樣品室: 6個(gè)接口,可接配內(nèi)外置EDS。 樣品臺(tái): X=35mm(馬達(dá)驅(qū)動(dòng)) Y= 35mm(馬達(dá)驅(qū)動(dòng)) T=0-45°(馬達(dá)驅(qū)動(dòng)) R=360° Z=5-50mm 樣品尺寸(最大): 70mm (W) x 45mm (H) |
功能特色 |
EM-30+高分辨率臺(tái)式(桌面式)掃描電鏡采用大型鎢燈絲電鏡光路設(shè)計(jì),兩級(jí)透鏡一級(jí)物鏡匯聚,使用二次電子探測(cè)器作為基礎(chǔ)成像單元。二次電子探測(cè)器采集器采用側(cè)位契合式設(shè)計(jì),在保證采集信其二次電子分辨率可達(dá)全業(yè)內(nèi)最高的5.0nm @30kv SE。EM-30+標(biāo)配SE+BSE探測(cè)器,可以同時(shí)刻進(jìn)行二次電子像和背散射電子像收集,既能實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品形貌襯度分析、元素襯度進(jìn)行分析,又能實(shí)現(xiàn)將二者相結(jié)合進(jìn)行分析,打破了傳統(tǒng)臺(tái)式電鏡只能得到樣品單一襯度像的瓶頸。 |
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